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    能量色散X荧光光谱仪 XRF

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    X荧光镀层测厚仪

    型号:Thick800A
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    产品说明、技术参数及配置

    仪器介绍

    Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

    性能特点

    满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
    φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
    高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
    采用高度定位激光,可自动定位测试高度
    定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
    鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
    高分辨率探头使分析结果更加准确
    良好的射线屏蔽作用
    测试口高度敏感性传感器保护

    标准配置

    开放式样品腔。
    二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
    双激光定位装置。
    铅玻璃屏蔽罩。
    FAST-SDD探测器。
    信号检测电子电路。
    高低压电源。
    X光管。
    高度传感器
    保护传感器
    计算机及喷墨打印机

    应用领域

    黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
    金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
    主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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